340-1100nm 3288*2470 CMOS光束质量分析仪BND-0615UP-Basic

一、产品介绍此系列产品是基础光斑分析仪产品,比较适合科研基础实验和低功率激光产品的测量,又因其体积小且结构兼容多面安装,产品也适合在工业应用中产品产线上产品调试
Description

一、产品介绍

此系列产品是基础光斑分析仪产品,比较适合科研基础实验和低功率激光产品的测量,又因其体积小且结构兼容多面安装,产品也适合在工业应用中产品产线上产品调试和校准。目前已有多款产品已在客户产生线上批量应用。

二、产品参数

型号BND-0615UP-Basic
检测波段nm340-1100
1100-1350
分辨率3288*2470
像元尺寸μm6.4
最小检测光斑μm64
最大检测光斑mm15.8
传感器尺寸mm21.1*15.8
计算帧率5-10fps
最大功率密度(损伤)50W/cm^2
最大检测功率1W
外触发支持
接口类型USB3.0
重量g<500
三、应用范围

需要对激光光斑形状进行检测得场合,如激光生产,维护以及激光应用

光学器件质量检查

激光腔镜调整

外光路准直

光纤对准耦合分析等

四、软件

是一款基于 Windows 操作系统的激光光束分析软件, 其特点以及功能包括:

1-1.jpg

2-1.jpg